数字式四探针测试计、数字式四探针测试仪

数字式四探针测试计/数字式四探针测试仪 　型号：SZB-SX1934

产品点
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M 标准的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试用仪器。
仪器以大规模集成电路为核心件，采用旋扭式开关控制，及各种作状态LED示。应用微计算机，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、耗低、测量度、测试速度快、稳定性好、易操作。


测量范围 电阻率/Range：10-4—105Ω/□（可扩展/extended range） 方块电阻（薄层电阻） /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω
可测晶片直径（zui大） φ100mm（标配），方形230×220mm（zui大）
zui大电阻测量误差（按JJG508-87）
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%读数±2个字
外形尺寸 400mm×440mm×120mm
仪器重量 电气主机：约4kg 　　测试台：约5kg
测试环境 温度：23±2℃ 相对湿度：≤65％； 无频干扰 无强光照射
电源 220V±10%（50Hz） 耗≤35W
备注 具备电脑接口





探头
SZB-Sx系列四探针探头是采用综合性能优异的分子材料、耐磨和硬度的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度、耐用性能好四探针探头。所有标符合家标准，同时符合ASTM标准有关规定。
间距：1±0.01mm； 针间缘电阻≥1000MΩ； 机械游移率:≤1.0%；
探针压力：TZT-9A/9B: 12-16牛顿（总力） TZT-9C/9D 5-8 牛顿（总力）

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