1.片劑硬度儀/片劑硬度測試儀 型號:HAD-YD1

片劑硬度儀 是用于測量片劑的壓碎硬度。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T20104-2007
 標(biāo):
△ 硬度測試范圍：2-200N  0.2KG-20KG  
△ 分辨率：0.1N  0.01Kg
△ 硬度測量度：量程±0.5%
△ 片劑測試直徑：2-20mm
△ 整機(jī)率：10W
△ 外形尺寸：長*寬*（280mm *180mm *110mm） 
主要點(diǎn):
① 度壓力傳感器，保證測試的度和重現(xiàn)性。
② 手動裝片、手動壓片，操作簡便。
③ 系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動顯示、自動鎖存、自動復(fù)位、自動循環(huán)測試、自動線性誤差修正、自動故障診斷。
④ 提供單位轉(zhuǎn)換能，試驗(yàn)前后均可實(shí)現(xiàn)換算。
⑤ 用戶可方便的使用標(biāo)準(zhǔn)砝碼定期對儀器行測量度校正

2.無線壓電互感器變比測試儀 型號:HAD-9500

 產(chǎn)品點(diǎn)

測量：低壓電互感器二次回路的電、變比、比差、角差、相別、性、漏電在線測試監(jiān)控；變壓器兩側(cè)電大小、變比在線測試監(jiān)控；空電、漏電測試；二次回路核相、相序判斷能。

無線壓變比測試儀突破傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)，為測量低壓二次回路的電、變比、漏電而心制的，采用CT及掩膜數(shù)字集成，由用壓檢測儀、低壓電鉗、主機(jī)、壓緣桿、監(jiān)控軟件等組成，其無線傳送測試數(shù)據(jù)能穿透多層樓房障礙，直線傳輸距離達(dá)300米。若不使用緣桿，還可以當(dāng)作度低壓鉗形電表、漏電表使用，能準(zhǔn)確測出0.01mA～1000A的電或漏電。 

3.活性炭粒度測定儀/活性炭粒度測試儀/活性碳粒度檢測儀   型號:HAD-LD3

 主要件及主要參數(shù):

測顆粒粒度測定儀的主要件及參數(shù)

l         轉(zhuǎn)速：150±2r/min

轉(zhuǎn)軸偏心距：20 ±1mm

2.定時器

3.電壓：220V    率：0.5KW

4.手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點(diǎn)與選型參考》入
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。 
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直    徑：HADT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測試臺直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量方位: 軸向、徑向均可.

 量程劃分及誤差等

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg

5.數(shù)字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀 型號:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直四探針法》并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測試臺等分組成。
主機(jī)主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀贈設(shè)測試結(jié)果分類能，zui大分類10類。
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選HAD-T-K型測試臺，也可選配HAD-T-D型測試臺以測試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配HAD-T-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率（括號內(nèi)為可向下拓展1個數(shù)量）
電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
直    徑： HAD-T-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
測量方位:  軸向、徑向均可

量程劃分及誤差等

作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（）

凈   重：≤1.5～2.0kg

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對應(yīng)的